场发射扫描电子显微镜 公司:日本/日立公司 型号:S-4800 I型 仪器管理员:陈鹏磊 主要功能: 可对各种固体材料(高分子和复合材料、金属、陶瓷、半导体、矿物及生物等)进行表面形貌观察测试分析。 |
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纳米粒度和Zeta电位分析仪 公司:英国Malvern公司 型号:Nano ZS 仪器管理员:徐春霞(此仪器对外测试) 电话:010-82629816 主要功能: 用于测定各种无机、有机粒子表面电荷性质、强度、粒径尺寸及分布。 主要技术指标: 粒度范围:0.6nm - 6μm流体力学直径 精度误差: +/- 2% 重复性偏差: +/- 3%CV 浓度应用范围:0.1ppm – 40% (w/w)。 最少样品量:0.75ml。 Zeta电位要求:分辨率优于2mV。 Zeta 电位准确性:+/- 5mV 样品池温度控制范围:2 – 90 oC PH值范围:2–12 |
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原子力显微镜 公司: 型号:NanoScope III 仪器管理员:王天宇 主要功能: 主要技术指标: 扫描范围:125μm×125μm×5μm 5μm×5μm×2.5μm 成像温度:-35°C ?250°C 最小针尖半径:2nm |
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超纯水仪 |